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高頻（微波）介電常數測試儀（TE空洞共振腔）
品牌：AET
型號: 空洞共振腔
產地：日本
機型：TE空洞共振腔
- 產品參數
品牌：AET
型號: 空洞共振腔
產地：日本
機型：TE空洞共振腔
儀器簡介：
TE空洞共振腔專用于測量厚度小于0.3mm的薄膜，支持5G（第五代移動通信系統），最高可達40GHz的頻率。
有固定的間隙用于插入待測樣品，并且在測量穩定性方面優于將樣品夾在諧振器中的方法。
可以測量各種材料（例如軟樣品和脆性樣品）的介電常數。
技術參數：
可測試頻率范圍： 10G-40GHz
介電常數Epsilon：1-5， 準確度： ±1%，
介電損耗tangent delta：0.01-0.0001， 準確度：±5%
樣品形狀：方形片狀
10 GHz（大于50 mm X 50mm） ；
20 GHz（ 大于40 mm X 40mm）；
28/40 GHz（ 大于30 mm X 30mm）
厚度：0.01 -0.3mm
符合標準 JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13
擁有多種腔體，每個腔可測一個頻點.
主要特點：
TE空洞共振腔（Cavity Resonator ），適用于5G薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。
應用領域：
主要應用于5G材料，例如薄膜等。
高速數字/微波電路用基底材料 ；濾波器和介電天線用低損耗電介質 ；化學制品；
薄膜與新材料；半導體材料；電子材料（包括CCL和PCB）
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日本AET高頻（微波）介電常數分析儀
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